單晶片乙級能力認證:
此認證分為學科測試與術科測試兩階段,術科測試日期與學科測試日期安排於同一日(09:00~16:00),學科測試完成後,即可進行術科測試。
學科測試試題有基本題(「A」、「B」、「C」、「D」)60題及進階題(「A」、「B」、「C」、「D」)20題,請選出正確答案;基本題佔60分,進階題佔40分,答錯皆不倒扣。總成績達60 分以上者(含60 分) ,則該次學科認證始為合格通過。
術科測試內容為控制板電路設計製作、控制板功能測試(限用C語言)、結合週邊板作功能設計(4X4點矩陣鍵盤、LCM液晶顯示器、類比數位轉換器、光學感測器、串列記憶體及直流馬達)及波形量測記錄工作四個部分,四個部分經監評人員評定總成績達60分以上者(含60分),則該次術科認證始為合格通過。